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微量分析天平的基本原理和使用

更新時間:2024-08-15點擊次數(shù):653
微量分析天平是一種高精度的測量設(shè)備,專門設(shè)計用于測量微小質(zhì)量的天平,廣泛應(yīng)用于需要高精度稱量的領(lǐng)域,主要用于測量非常微小的質(zhì)量值,通常具有高精度和高靈敏度。
 
基本原理:
微量天平通過電磁力平衡原理工作,利用縣掛點的彈性力與電磁力相平衡來測量物體的質(zhì)量。具體來說,當(dāng)被測物體放置在天平的秤盤上時,天平的傳感器會產(chǎn)生形變,這個形變通過杠桿機構(gòu)傳遞到磁鋼,磁鋼產(chǎn)生位移又引起磁感應(yīng)強度變化,進而改變線阻抗,導(dǎo)致電路電流變化。這個電流的變化值與被測物體的質(zhì)量成正比,通過測量這個電流的變化量,就可以得到被測物體的質(zhì)量值。
 
選購:
根據(jù)實際需求選擇合適的精度和量程。
考慮天平的穩(wěn)定性、重復(fù)性、易用性等因素。
選擇品牌可靠的供應(yīng)商,確保產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務(wù)。

使用:
將天平放置在穩(wěn)定的工作臺上,避免振動或氣流影響。
避免被測物體受到額外壓力或摩擦力,以免影響測量結(jié)果。
遵循先開天平后加物的原則,避免損壞天平的傳感器或測量系統(tǒng)。
定期清潔天平的秤盤和傳感器保持基清潔干燥。
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